DIN EN ISO 8442-3-1998 与食品接触的材料和器具.刀具和餐桌器皿.第3部分:镀银餐桌器皿和装饰凹型器皿的要求

【英文标准名称】:Materialsandarticlesincontactwithfoodstuffs-Cutleryandtableholloware-Part3:Requirementsforsilver-platedtableanddecorativeholloware(ISO8442-3:1997);GermanversionENISO8442-3:1997
【原文标准名称】:与食品接触的材料和器具.刀具和餐桌器皿.第3部分:镀银餐桌器皿和装饰凹型器皿的要求
【标准号】:DINENISO8442-3-1998
【标准状态】:现行
【国别】:德国
【发布日期】:1998-02
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:餐具;材料;凹形餐具;规范;镀银;食品;刀叉(餐具);装饰;食品制作工艺;处理;食物加工器具;试验;规范(验收);定义;切削工具;应用;银;金属;制备;切割装置
【英文主题词】:Cutlery;Cuttingdevice;Cuttingtools;Cuttingwork;Decorations;Definition;Definitions;Flatware;Foodmanufacturingprocesses;Foodpreparationequipment;Foodproducts;Holloware;Hollow-ware;Materials;Metals;Preparations;Processing;Silver;Silver-coated;Specification;Specification(approval);Tableholloware;Tableware;Testing;Use
【摘要】:Thisdocumentspecifiesmaterial,performancerequirementsandtestmethodsforsilver-platedtableanddecorativehollowaremadeprincipallyfrommetals,andintendedforuseatoruponthediningtable.
【中国标准分类号】:Y68;X09
【国际标准分类号】:67_250;97_040_60
【页数】:13P.;A4
【正文语种】:德语

标准名称：	硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导衰减测试方法
英文名称：	Test method for carrier recombination lifetime in silicon wafers by non-contact measurement of photoconductivity decay by microwave reflectance
中标分类：	冶金 >> 半金属与半导体材料 >> 半金属与半导体材料综合
ICS分类：	电气工程 >> 半导体材料
发布部门：	中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局中国国家标准化管理委员会
发布日期：	2011-01-10
实施日期：	2011-10-01
首发日期：	2011-01-10
作废日期：
主管部门：	全国半导体设备和材料标准化委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2)
归口单位：	全国半导体设备和材料标准化委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC 2)
起草单位：	有研半导体材料股份有限公司、瑟米莱伯贸易(上海)有限公司、中国计量科学研究院、万向硅峰电子有限公司、广州昆德科技有限公司、洛阳单晶硅有限责任公司
起草人：	曹孜、孙燕、黄黎、高英、石宇、楼春兰、王世进、张静雯
出版社：	中国标准出版社
出版日期：	2011-10-01
页数：	28页

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