【英文标准名称】:StandardSpecificationforPureAluminum(Unalloyed)SourceMaterialforElectronicThinFilmApplications
【原文标准名称】:电子薄膜器件用纯铝(非合金)原材料标准规范
【标准号】:ASTMF1513-1999(2003)
【标准状态】:现行
【国别】:
【发布日期】:1999
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(US-ASTM)
【起草单位】:F01.17
【标准类型】:(Specification)
【标准水平】:()
【中文主题词】:电子薄膜器件;纯铝(非合金)原材料;真空电子器件;践射目标;目标;薄膜;覆层;铝电导体;蒸发;半导体
【英文主题词】:aluminum;coating;evaporation;sputtering;targets;thinfilms;vacuumcoating
【摘要】:1.1Thisspecificationcoverspurealuminummetal(unalloyed)foruseinevaporationsourcesandsputteringtargets.Thismaterialisintendedasarawmaterialforelectronicapplications.Thematerialisusedas-suppliedinsomecases(forexample,ase-beamevaporationsources).Inotherinstancesitmayberemelted,alloyed,castandprocessedbythepurchasertomakefinishedproducts(forexample,sputteringtargets).1.2Thisspecificationsetspuritygradelevels,physicalattributes,analyticalmethods,andpackaging.1.3ThevaluesstatedinSIunitsaretoberegardedasthestandard.Thevaluesgiveninparenthesesareforinformationonly.
【中国标准分类号】:H61
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:2P.;A4
【正文语种】:
基本信息
标准名称: | 用于校准剂量仪和剂量率仪及确定其能量响应的x和γ参考辐射 第1部分:辐射特性及产生方法 |
英文名称: | X and gamma reference radiation for calibrating dosemeters and doserate meters and for determining their response as a function of photon energy--Part 1 :Radiation characteristics and production methods |
中标分类: |
能源、核技术 >>
核仪器与核探测器 >>
勘探采矿和工艺检测核仪器 |
ICS分类: |
计量学和测量、物理现象 >>
辐射测量
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替代情况: | GB/T 12162-1990 |
发布部门: | 国家质量技术监督局 |
发布日期: | 2000-01-02 |
实施日期: | 2001-07-01 |
首发日期: | 1990-01-12 |
作废日期: | 1900-01-01 |
主管部门: | 中国核工业集团公司 |
提出单位: | 中国核工业总公司 |
归口单位: | 中国核工业总公司 |
起草单位: | 中核公司辐射防护研究所 |
起草人: | 李景云、郭文、侯金兵 |
出版社: | 中国标准出版社 |
出版日期: | 2001-07-01 |
页数: | 38页 |
书号: | 155066.1-17636 |
适用范围
本标准规定了用于校准防护水平剂量仪和剂量率仪(空气比释动能率从lOμGy·h-1~lOGy·h-1)及确定其能量响应特性的X和γ参考辐射的特性和产生方法。参考辐射分为四组。每组对应于一个特定光子能量范围,它们的产生方法分4章描述并在其中规定了这些辐射的特性。这4组参考辐射是:a)约7keV~25OkeV能量范围的连续谱过滤X辐射和241Am的γ辐射。B)8keV~lOOkeV能量范围的荧光X辐射。C)60OkeV~1.3MeV能量范围的放射性核素γ辐射。D)4MeV~9MeV能量范围的反应堆和加速器产生的γ辐射。应从表1中选用这些参考辐射。
前言
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目录
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引用标准
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所属分类: 能源 核技术 核仪器与核探测器 勘探采矿和工艺检测核仪器 计量学和测量 物理现象 辐射测量